今年八月 ,USB IF 組織發(fā)布USB4 Gen 3 TP3 嵌入文件標(biāo)注USB4規(guī)范
來源： 發(fā)布時間：2022-08-29 點(diǎn)擊量：2927
USB IF 組織發(fā)布USB4 Gen 3 TP3 嵌入文件標(biāo)注USB4規(guī)范
2.測試設(shè)備
2.1概述
用于測試的所有設(shè)備應(yīng)符合以下規(guī)定的要求列表。
這包括USB4授權(quán)測試中心使用的主要設(shè)備，如果可能，最終用戶也應(yīng)使用這些設(shè)備進(jìn)行自檢。
其他配置和設(shè)備可用于自檢，只要該設(shè)備和工藝滿足所有規(guī)定和隱含要求，并允許同等水平的測試。
2.2試驗設(shè)備要求
所有測試設(shè)備都需要校準(zhǔn)，以確保結(jié)果準(zhǔn)確且可重復(fù)。設(shè)備應(yīng)在試驗程序之前和必要時進(jìn)行校準(zhǔn)。
2.2.1測試點(diǎn)接入板
為了訪問所需信號，需要各種測試點(diǎn)訪問板。測試點(diǎn)接入板為USB4 USB Type-C連接器上的引腳提供測試點(diǎn)，并提供控制DUT的簡單方法。
推薦的測試設(shè)備：
1.Wilder USB4插頭和插座測試夾具。
2.帶USB電纜的Wilder USB4微控制器測試模塊。
3.控制PC\Scope運(yùn)行最新的USB4 SW電氣測試工具（ETT）。
2.2.2實(shí)時范圍
所需測試設(shè)備能力：
?直流至21±1GHz，-3db帶寬或更大
?80G采樣/秒采樣率或更高，同時采樣2個通道
?樣本存儲器：2個通道，每個通道50個樣本或更大
?一階和二階CDR能力
?均衡和DFE
?抖動測量
?嵌入/去嵌入能力
?高阻抗探頭
2.2.3模式生成器
生成具有多種模式的USB4信號，抖動注入能力
俘獲裝置電氣符合性試驗規(guī)范10
2.測試設(shè)備
2.1概述
用于測試的所有設(shè)備應(yīng)符合以下規(guī)定的要求列表。
這包括USB4授權(quán)測試中心使用的主要設(shè)備，如果可能，最終用戶也應(yīng)使用這些設(shè)備進(jìn)行自檢。
其他配置和設(shè)備可用于自檢，只要該設(shè)備和工藝滿足所有規(guī)定和隱含要求，并允許同等水平的測試。
2.2試驗設(shè)備要求
所有測試設(shè)備都需要校準(zhǔn)，以確保結(jié)果準(zhǔn)確且可重復(fù)。設(shè)備應(yīng)在試驗程序之前和必要時進(jìn)行校準(zhǔn)。
2.2.1測試點(diǎn)接入板
為了訪問所需信號，需要各種測試點(diǎn)訪問板。測試點(diǎn)接入板為USB4 USB Type-C連接器上的引腳提供測試點(diǎn)，并提供控制DUT的簡單方法。
推薦的測試設(shè)備：
1.Wilder USB4插頭和插座測試夾具。
2.帶USB電纜的Wilder USB4微控制器測試模塊。
3.控制PC\Scope運(yùn)行最新的USB4 SW電氣測試工具（ETT）。
2.2.2實(shí)時范圍
所需測試設(shè)備能力：
?直流至21±1GHz，-3db帶寬或更大
?80G采樣/秒采樣率或更高，同時采樣2個通道
?樣本存儲器：2個通道，每個通道50個樣本或更大
?一階和二階CDR能力
?均衡和DFE
?抖動測量
?嵌入/去嵌入能力
?高阻抗探頭
2.2.3模式生成器
生成具有多種模式、抖動注入能力的USB4信號。
俘獲裝置電氣符合性試驗規(guī)范11
所需測試設(shè)備能力：
?數(shù)據(jù)速率≥ 20Gbps
?數(shù)據(jù)模式：PRBS15、PRBS31、方波
?差動擺動范圍：0-2Vp-p，10mV步長
?上升時間≥ 10 ps（20%-80%）
?固有抖動≤ 400 fS RMS
?不小于500MHz的隨機(jī)抖動分布
?均衡
?能夠按照USB4基本規(guī)范的要求創(chuàng)建RX clk交換機(jī)SSC配置文件
?SSC擴(kuò)散偏差從0.03%降至-0.53%。注–用于與Thunderbolt的互操作性? 3（TBT3）系統(tǒng)：SSC擴(kuò)散偏差應(yīng)為0.04%至-0.54%。
?注入1個SJ源
3.1變送器測試設(shè)置
下圖顯示了與DUT和控制PC的連接，用于：
變送器測試。
注：在開始任何測試或數(shù)據(jù)采集之前，必須預(yù)熱示波器，
并校準(zhǔn)。用于測量的電纜應(yīng)為非嵌入式（4端口）。對于
所有測試信號必須垂直調(diào)諧才能打開。
